ANSI/IEEE 300-1988 半导体带电粒子检测器的试验程序
作者:标准资料网
时间:2024-05-29 09:01:33
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【英文标准名称】:TestProceduresforSemiconductorCharged-ParticleDetectors
【原文标准名称】:半导体带电粒子检测器的试验程序
【标准号】:ANSI/IEEE300-1988
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:1988
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国国家标准学会(US-ANSI)
【起草单位】:IEEE
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:辐射测量;半导体;测量技术;检波器(回路)
【英文主题词】:Detectors(circuits);Measuringtechniques;Radiationmeasurement;Radiationmeters;Semiconductordevices;Semiconductors;Testprocedures;Testing
【摘要】:Thisstandardappliestosemiconductorradiationdetectorsthatareusedforthedetectionofhigh-resolutionspectroscopyofchargedparticles.
【中国标准分类号】:L85
【国际标准分类号】:17_220_20
【页数】:
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:半导体带电粒子检测器的试验程序
【标准号】:ANSI/IEEE300-1988
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:1988
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国国家标准学会(US-ANSI)
【起草单位】:IEEE
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:辐射测量;半导体;测量技术;检波器(回路)
【英文主题词】:Detectors(circuits);Measuringtechniques;Radiationmeasurement;Radiationmeters;Semiconductordevices;Semiconductors;Testprocedures;Testing
【摘要】:Thisstandardappliestosemiconductorradiationdetectorsthatareusedforthedetectionofhigh-resolutionspectroscopyofchargedparticles.
【中国标准分类号】:L85
【国际标准分类号】:17_220_20
【页数】:
【正文语种】:英语
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